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000000236 100__ $$aChrzan, K L$$uTU Wroclaw, Polen
000000236 245__ $$aVerschmutzungsverhalten von Hochspannungsisolatoren und Ableitern
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000000236 500__ $$aETZ (Berlin). 2007 Jg 128, H. 1, S. 32-36
000000236 520__ $$aVon 1980 bis 2005 wurde das Verschmutzungsverhalten unterschiedlicher Hochspannungsisolatoren und Überspannungsableiter im Freiluftprüffeld „Glogów“ untersucht. Fortschritte im Umweltschutz und neue Technologien haben zu einer bedeutenden Abnahme der Staub- und Gasemissionen in der Nähe von Kupferhütten geführt. Als direkte Folge hat sich der Umweltverschmutzungsgrad des Gebiets von vier (sehr hoch) in den 1980er-Jahren auf eins (leicht) im Jahr 2003 reduziert. Die Überschlagspannung von Porzellanisolatoren wurde 1987 unter natürlichen Bedingungen und in den Jahren 2002 bis 2004 nach Befeuchtung mit Spritzwasser gemessen. Ferner wurden die Spannungsfestigkeit von Keramikisolatoren mit der von silikon- bzw. PTFE-beschichteten Isolatoren verglichen und die Messwerte der Innentemperatur von Metalloxid-Überspannungsableitern in einem Keramikgehäuse dargestellt.
000000236 6531_ $$aHochspannungsisolatoren
000000236 6531_ $$aÜberspannungsableiter
000000236 6531_ $$aVerschmutzungsverhalten
000000236 6531_ $$aÜberschlagspannung
000000236 6531_ $$aPorzellanisolatoren
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