Elektrotechnik TU Wroclaw

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1.
The effect of generation-recombination processes and of injection mechanism on current-voltage dependences in the metal-dielectric-metal system : I. Carrier generation / Swistacz, B [I07/1986/P-268] [ENY-ARTICLE-2008-101]
A dielectric model in which electrons and holes are the charge carriers was studied. [...]
http://zet10.ipee.pwr.wroc.pl/record/130/files/
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